高エネルギー陽子マイクロビームを用いた微量ホウ素の分析Trace Boron Analysis Using High Energy Proton Microbeam
大阪大学産業科学研究所The Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University ◇ 567–0047 大阪府茨木市美穂ケ丘8–1 ◇ 8–1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567–0047, Japan
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試料中に微量に含まれるLi, Be, Bなどの軽元素は他の重い元素に比べ分析が難しいとされている。本稿ではMeV領域のイオンビームを用いた元素分析法及び核反応を用いる放射化分析について簡単に述べる。具体例として,MeV陽子マイクロビーム照射によって起こる核反応で放出されるγ線を用いて,鉄鋼中に存在する20~100 ppmのホウ素の二次元及び三次元の分析を行ったので,その方法を紹介する。
Trace light elements such as Li, Be and B in materials are rather difficult to be analyzed than heavier elements. In this review outlines of elemental analysis using MeV ion beams and nuclear reaction analysis are described. As an example, our experimental method of nuclear reaction analysis with using gamma ray induced by MeV energy proton microbeams and some results of mapping of trace boron in iron are presented.
Key words: boron; trace element mapping; ion-microbeam analysis; PIGE (Particle Induced Gamma-ray Emission); nuclear reaction analysis
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